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產(chǎn)品分類
Product Category
FR-Ultra晶圓厚度測量系統(tǒng)
FR-ES精簡薄膜厚度測量儀
EVG770 NT分步重復(fù)納米壓印光刻機
EVG850 TB自動化臨時鍵合系統(tǒng)
EVG620 NT掩模對準(zhǔn)光刻機系統(tǒng)
LODAS™ – LI系列FPD Photomask缺陷檢查裝置
LODAS™ – BI12GlassWafe缺陷檢查裝置
LODAS™ – BI8Photomask Blanks缺陷檢查裝置
LODAS™ – AI50/100Photomask Blanks缺陷檢查裝置
FR-Ultra 晶圓厚度測量系統(tǒng)
FR-Scanner AIO-Mic-RΘ150自動化高速薄膜厚度測量儀
WM 300光學(xué)粗糙度測試儀
PLS-F1000晶圓幾何形貌測量及參數(shù)自動檢測機
P03Q-6LS Plasma微波等離子清洗機
Nanotronics nSpec Macro微流控缺陷檢測
Delcom 20J3 STAGE薄膜電阻測量儀
Nanotronics nSpec LS晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)
Herz電鏡隔振臺